冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。

冷热冲击试验箱设备的结构通常有三种形式：单箱式、垂直升降式和水平两箱式。

1.单箱式由于所需制冷量及加量量较大，这种结构可行性较差，实际应用很少；

2.垂直升降式通过内部升降的转换，避开了外界环境的影响，但由于升降装置本身作为一个热负载要消耗冷量或热量，因此这种方式通常适用于小型试验箱，对于中、大型试验箱，由于升降装置太重，此方式不适用；

3.水平两箱式通过两箱间的相互转换，减小了箱体的负载从而减小了设备的制冷和加热量，但需要水平转换装置，并会受到外界环境的影响。

因此，试验方式的选择要根据具体情况具体分析，对于小型设备，采用垂直升降方式少了一个箱体，可以节约费用;但对于中、大型的温度冲击试验箱，只要方案合理可行，能保证满足国军标指标要求，采用水平两箱式的试验方案是一种较好的选择。